Bilan de l'étude HélioSPIR Microspectromètres : méthodologie employée, résultats et perspectives. Etape 1. Caractérisation des spectromètres

Bendoula Ryad, Zgouz Abdallah, Héran Daphné, Chaix Gilles, Baeten Vincent, Bastianelli Denis, Roger Jean-Michel, Gorretta Nathalie, Dardenne Pierre, Bonnal Laurent, Barthès Bernard, Larat Vincent, Lurol Sébastien, Clément-Vidal Anne, Roussel Sylvie, Bonin Michaël. 2018. Bilan de l'étude HélioSPIR Microspectromètres : méthodologie employée, résultats et perspectives. Etape 1. Caractérisation des spectromètres. In : La miniaturisation des spectromètres proche infrarouge. Résumé des communications. HélioSPIR. Montpellier : s.n., p. 17. Rencontres HelioSPIR "La miniaturisation des spectromètres proche infrarouge". 19, Montpellier, France, 8 Novembre 2018/9 Novembre 2018.

Résumé : Etape 1 : Caractérisation des spectromètresObjectif : caractériser les performances optiques des différents spectromètres et micro-spectromètres étudiés.Caractérisation de la réponse du capteurMesure du Dark Current (DC) : mesures spectrales dans le noir, éclairage du spectromètre allumé, pour différents Temps Intégration (Ti) ou gain.Objectif: tracer la fonction : DC=f(Ti) ou DC=f(G).Mesure du Bruit par Pixel (BP) : deux mesures dans le noir à 0 ms (si possible).Objectif: BP=(Mesure1−Mesure2)/√2Linéarité du Capteur (LC) : mesures spectrales sur une référence blanche, pour différents temps d'intégration ou gain jusqu'à saturation du spectre. Objectif: tracer la fonction : LC=f(Ti) ou DC=f(G).Rapport Signal/Bruit (SNR) : mesures spectrales d'une référence répétées n fois. Le temps d'intégration est optimisé afin de maximiser le signal mesuré tout en restant dans la zone de linéarité du capteur. Objectif: calculer la moyenne et l'écart type: SNR=<I(λ)>/σ(λ)Stabilité de la mesure spectrale de l'appareilMéthode: après optimisation du temps d'intégration, une mesure d'une référence blanche sera effectuée toute le 2 minutes durant 60 minutes. Objectif: observer les dérives rapides et lentes de la mesure spectraleCaractérisation spectrale de l'appareilJustesse de la calibration : des échantillons présentant de signatures spectrales bien définies sont mesurés.Objectif: mesurer la justesse de la calibration fournie par le constructeurRésolution spectrale : sources lasers ou filtrées seront mesurées Objectif: mesure de la résolution spectraleLumière parasite : l'éclairage de chaque spectromètre sera filtré (passe-haut). Une mesure spectrale de cette lumière filtrée sera mesurée sur un échantillon blanc.Objectif: quantifié la lumière résiduelle (lumière parasite) dans la zone coupée par le filtre.

Auteurs et affiliations

• Bendoula Ryad, IRSTEA (FRA)
• Zgouz Abdallah, Université de Montpellier (FRA)
• Héran Daphné, IRSTEA (FRA)
• Chaix Gilles, CIRAD-BIOS-UMR AGAP (FRA) ORCID: 0000-0003-2015-0551 - auteur correspondant

Contributeurs et affiliations

• Baeten Vincent, CRA-W (BEL) - collaborateur
• Bastianelli Denis, CIRAD-ES-UMR SELMET (FRA) ORCID: 0000-0002-6394-5920 - collaborateur
• Roger Jean-Michel, IRSTEA (FRA) - collaborateur
• Gorretta Nathalie, IRSTEA (FRA) - collaborateur
• Dardenne Pierre - collaborateur
• Bonnal Laurent, CIRAD-ES-UMR SELMET (FRA) ORCID: 0000-0001-5038-7432 - collaborateur
• Barthès Bernard, IRD (FRA) - collaborateur
• Larat Vincent, Adisseo France (FRA) - collaborateur
• Lurol Sébastien, CTIFL (FRA) - collaborateur
• Clément-Vidal Anne, CIRAD-BIOS-UMR AGAP (FRA) - collaborateur
• Roussel Sylvie, ONDALYS (FRA) - collaborateur
• Bonin Michaël, Fondis Electronics (FRA) - collaborateur

Source : Cirad-Agritrop (https://agritrop.cirad.fr/590655/)

Métriques

[ Page générée et mise en cache le 2023-10-30 ]