Résultats pour Auteur : "Touboul, David"

Composition of antifungal volatile organic compounds in Sextonia rubra fruit by molecular networks. Levasseur Marceau, Santerre Cyrille, Segret Juliette, Elie Nicolas, Genty Christophe, Estevez Yannick, Amusant Nadine, Houël Emeline, Eparvier Véronique, Touboul David. 2023. Comptes Rendus. Chimie, 26 (S2):n.spéc. Chemical Ecology - Chemical Mediation in the Environment : 1-13.

Biosynthetic investigation of γ-lactones in Sextonia rubra wood using in situ TOF-SIMS MS/MS imaging to localize and characterize biosynthetic intermediates. Fu Tingting, Houël Emeline, Amusant Nadine, Touboul David, Genta-Jouve Grégory, Della Negra Serge, Fisher Gregory L., Brunelle Alain, Duplais Christophe. 2019. Scientific Reports, 9:1928, 11 p.

Tandem mass spectrometry imaging and in situ characterization of bioactive wood metabolites in Amazonian tree species Sextonia rubra. Fu Tingting, Touboul David, Della Negra Serge, Houël Emeline, Amusant Nadine, Duplais Christophe, Fisher Gregory L., Brunelle Alain. 2018. Analytical Chemistry, 90 (12) : 7535-7543.

Mapping Dicorynia guianensis Amsh. wood constituents by submicron resolution cluster-TOF-SIMS imaging. Vanbellingen Quentin, Fu Tingting, Bich Claudia, Amusant Nadine, Stien Didier, Della Negra Serge, Touboul David, Brunelle Alain. 2016. Journal of Mass Spectrometry, 51 (6) : 412-423.

Application de l'imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS à l'étude de végétaux : étude de métabolites de bois de Dicorynia guianensis. Bich Claudia, Amusant Nadine, Touboul David, Stien Didier, Brunelle Alain. 2012. In : JFSM 2012 : 29èmes Journées françaises de spectrométrie de masse. Orléans : SFSM, Résumé, 212. Journées Françaises de Spectrométrie de Masse. 29, Orléans, France, 17 Septembre 2015/20 Septembre 2015.

Study of wood metabolites by submicron resolution Cluster-TOF-SIMS imaging. Vanbellingen Quentin, Fu Tingting, Elie Nicolas, Eller Michael, Amusant Nadine, Touboul David, Stien Didier, Della Negra Serge, Brunelle Alain. 2015. . seatle : s.n., 1 p. International Conference on secondary ion mass spectrometry (SIMS). 20, Seattle, États-Unis, 15 Septembre 2015/18 Septembre 2015.